薄膜测厚仪,顾名思义为用于塑料薄膜材料的厚度检测的专业测量仪器。其名称为“薄膜测厚仪”,行业中又被称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度仪、薄膜厚度测试仪等等。一般来说,仪器能够测量的材料包括:塑料薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料的厚度。
从薄膜厚度测量方式不同的角度来划分,薄膜测厚仪可分为接触式和非接触式两种,即测量薄膜厚度时仪器是否接触到测试样品本身。
普创科技自主研发生产的“PTT-03A 薄膜测厚仪”,是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。该仪器严格按照相关标准要求设计制造,采用机械接触式测试原理,非常适合薄膜材料进行厚度的高精度测量,是企业进行产品厚度技术指标质量控制的必备仪器。
PTT-03A 薄膜测厚仪是严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制,测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差,可选系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定,实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
仪器的测试原理为:将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。
PTT-03A 薄膜测厚仪的执行标准:
该仪器符合多项国家和国际标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
应用材料:
基础应用:
薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定
纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定
扩展应用:
金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定
瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定
纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定
非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定
其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定
PTT-03A 薄膜测厚仪的技术标准:
指 标 参 数
测量范围 0~2mm(标准) ,0~6mm ,0~12mm(可选)
分辨率 0.1μm ( 1μm可选)
测试速度 1~25次/min
测量头平行度 ±0.2μm (机械调整,量块校验)
精度 ±<0.3μm
测量压力 17.5±1kPa(薄膜) ;100±1kPa(纸张) ;其它测试可定制
接触面积 平面接触50mm2 (薄膜); 200mm2 (纸张)
电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重 30Kg
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